光电芯片及模块测试

产品简介:提供各类无源、有源光电子光器件测试。包括插损、偏振相关损耗、光谱带宽等光学测试,以及S参数、眼图、误码率等高速测试。 拥有800G高速误码仪、67G 矢量网络分析仪、67G光波器件分析仪(LCA)、支持单波112Gbaud的任意波形发生器(AWG)和光电采样示波器(DCA)等高速光电测试设备。

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联系方式

          负责人:周经理

          研究室名称:光电子芯片与信息系统研究室

          通信邮箱:zhouyan@ydioe.pku.edu.cn

          联系电话:0513-51088305