可靠性测试

产品简介:拥有高低温循环箱、推拉力测试仪等可靠性测试设备,可提供芯片和光模块开发过程中各种可靠性测试。

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联系方式

         负责人:周经理

         研究室名称:光电子芯片与信息系统研究室

         通信邮箱:zhouyan@ydioe.pku.edu.cn

         联系电话:0513-51088305